Retroid Pocket 5のユーザーの間で、本体シェルにひび割れが発生したという報告が相次いでいます。
携帯型ゲーム機として高い評価を受けている一方で、ハードウェア面での品質問題が再び浮上している形です。
ネジ周辺からのクラック報告が中心
今回の問題は主にRedditなどのコミュニティで報告されており、筐体の特定箇所にクラックが発生しているという声が複数確認されています。
特に多いのは、L1/L2ボタン付近の上部や、microSDカードスロット周辺の下部など、ネジ穴の近くに集中している点です。
また、カラーに関係なく発生しているとみられ、特定ロットや色に限定された不具合ではない可能性が指摘されています。
原因は「ネジの締めすぎ」説が有力
ユーザーの間では、工場出荷時にネジが強く締め付けられすぎていることが原因ではないかという見方が広がっています。
実際にクラックがネジ穴付近に集中していることから、この説には一定の説得力があるとされています。
一部ではバッテリー膨張が原因ではないかという意見もありますが、使用期間の短さや外観の変形が見られない点から、その可能性は低いと考えられています。
過去モデルでも類似トラブル
Retroid Pocket Flip 2でもヒンジ部分の破損が報告されており、同ブランド製品ではハードウェアの構造的な弱点を指摘する声が続いています。
今回のPocket 5のケースも、設計や製造工程に起因する問題ではないかと懸念されています。
影響範囲は長期にわたる可能性
一部の報告では、この問題はここ1年ほど継続的に確認されているともされており、単発の不具合ではない可能性が高い状況です。
クラックは上部・下部の両方で確認されており、特定箇所に限定されていない点も特徴となっています。
応急対策としてはネジ緩めも
現時点ではメーカーからの正式な対応は発表されていません。
一部ユーザーの間では、背面カバーのネジをわずかに緩めることで症状の進行を抑えられる可能性があるとの声もありますが、過度な調整は別のトラブルにつながる恐れもあります。
ハードとしての評価は依然高いが懸念材料に
Retroid Pocket 5は、Qualcomm Snapdragon 865を搭載し、OLEDディスプレイや良好なバッテリー持ちを備えた完成度の高い携帯ゲーム機として評価されてきました。
後継モデルとしてRetroid Pocket 6も登場していますが、今回の筐体クラック問題は、同シリーズ全体の品質管理に対する懸念として注目されそうです。
