明日、6月3日にいよいよ国内発売となる新型Xperiaフラッグシップ、Xperia 1 IV。
発表が遅かったわりにはリリースは前モデルよりも早く、台湾や香港では一足先に発売済みとなっており、今回、Geekbench上で発売後の製品版で測定したと思われるベンチマークスコアがいくつか発見。
しかし、そのスコアから少し気になる点が浮上しました。
Xperia 1 IV XQ-CT72のGeekbenchベンチマークスコア↓
Geekbenchは現在、検索機能に問題が生じている?ためか過去の同モデルのベンチマークをすべて参照することはできませんが、6月1日時点で最も期近なスコアを一覧にすると:
シングルコア | マルチコア |
1101 | 3229 |
811 | 2455 |
1135 | 3023 |
1146 | 3320 |
713 | 2236 |
1156 | 3487 |
1124 | 2684 |
マルチコアのスコアは平均で3000ポイント前後といったところでしょうか。
これはSnapdragon 8 Gen1を搭載している機種としてはかなり低めのスコアです。
ちなみに以下はSD888搭載の前モデル、Xperia 1 IIIのベンチマークスコア:
今回発見されたスコアと比べる限りでは、Xperia 1 IVのベンチマークスコアはXperia 1 IIIよりも低め、ということに。
Xperia 1 IVのプロセッサ・スロットリングはかなり強烈?
ベンチマーク測定では機種を問わず使用環境などによってたまに異常に低い「外れ値」スコアがでることもあるので、これらもたまたま出た低スコア、という可能性も皆無ではありません。
ただ、7つのスコアうち3つが2000ポイント台というのは少し頻度が高すぎるという感じで、気になるところ。
GSMArenaが以前のレビュー記事でXperia 1 IVのアグレッシブなスロットリングについて言及していましたが、今回のベンチマークスコアもそれを裏付けるもの、とも言えるのかもしれません。
ちなみにGalaxy S22シリーズでも無印のS22のAntutuベンチマークスコア平均がS22 Ultraと比べるとかなり低めという事象が観測されており、これは無印S22では端末が高温になりやすいためより頻繁にスロットリングがされている可能性が指摘されています。
これはやはりよほど優秀な排熱システムでも搭載していない限り、Snapdragon 8 Gen1搭載機種の宿命なのかもしれませんね。
ソース:Geekbench
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